FUJI Smart Factory

実績管理・分析

不良発生時に様々な条件からトレーサビリティ情報を取得できます。SPI、AOIの検査画像など、周辺機器を含めた情報の提供により、迅速に原因と影響範囲を特定できます。

稼働状況をはじめとした生産実績を見やすいレポートにまとめて提供します。

1. 不良分析

不良検出時に即時、対象基板の生産に関わるデータを提供します。

短時間で要因の特定と早期の対策が可能となるため、不良の流出を防止し、被害を最小限に抑えます。

2. トレーサビリティ

部品、フィーダー、基板のバーコードをキーとして、トレーサビリティ情報を取得できます。

不良要因が反映された基板の抽出や、不良基板の生産に使用された部品やユニットの特定が容易になります。

3. 生産実績レポート

指定期間の生産実績を、見やすいレポートにまとめて出力できます。

稼働状況、エラー情報をはじめ、さまざまな実績データから改善点を把握できます。

 

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